测厚仪|测高仪|测距仪等形参测量仪

上海铸金分析仪器有限公司可供应多系列的测高仪,测厚仪,测距仪、形状测量仪、台阶仪、卡尺、塞尺等形参测量量具量仪。比如测厚仪系列涵盖超声波测厚仪、涡流测厚仪、X荧光测厚仪、机械式测厚仪、白光干涉膜厚仪、电解测厚仪等诸多类型，可满足各行业镀层、涂层、覆层等各种厚度测量需求。本站产品添加不全，欢迎来电垂询。 产品示例：
镀层测厚仪
简介：
X荧光测厚仪广泛应用于工业生产的各个行业，可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们始终坚持急客户之所急，想客户之所想。通过测试仪器和特殊算法为客户提供较佳的解决方案，针对不同行业提供个性定制。
特点：
▲自上而下的照射系统，测量不规则镀件更方便
●铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
●防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
●印制电路板和柔性电路板上的镀层
●接插件和连接器上的镀层
●电镀槽液分析
▲一机多用，不只是测试厚度
●THICK900系列X荧光分析仪专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束，短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了镀层分析，还可以加装全元素分析软件，ROHS 2.0 分析软件，满足客户一机多用的测试需求。
▲内部设计：
可测样品*高130mm
▲安全系统：
安全光栅预防意外事故同时保护探测器，降低误操作带来的仪器损坏
▲外形设计：
X射线辐射豁免 三维移动测试平台


白光干涉膜厚仪
系列白光干涉光谱仪，用于有机膜厚测量，在车灯，薄膜，半导体等行业有众多的应用实例。
光学方法，非接触、无损测量，安全无辐射。
快速膜厚分析，只需几毫秒即可获得测量结果
膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )
高的分析准确度，在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米
可同时分析计算两层膜厚
可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析