FEI QEMSCAN全自动无损显微分析系统扫描电子显微镜

美国FEI有着逾60年的经验，可帮助客户找出问题的真相，从而加快突破性发现的速度，提高生产效率，*终改变世界。美国FEI 设计、制造和支持门类*齐全的高性能显微镜工作流，它们可在微观、纳米和皮米级别提供图像，找出问题的真相。美国FEI在全球范围内有2700余名员工，他们将电子显微镜、离子显微镜和光学显微镜方面的软硬件*知识与在材料科学、生命科学、电子工业和自然资源市场深厚的应用知识结合起来，专注于帮助客户发现和解决世界难题。美国FEI扫描电子显微镜 (SEM) 解析从光学范畴到亚纳米长度尺度的特性。我们灵活的SEM可满足各种需求，从科学和工程中的材料表征一直到自然资源中的应用、制造和生物系统。 QEMSCAN® 是一款全自动、无损显微分析系统，可针对几乎所有无机材料和部分有机材料，迅速提供在统计学上可靠且可重复的矿物学、岩相学和冶金学数据。在采矿业，QEMSCAN系统可用于矿产勘查、矿石表征和选矿工艺优化。在石油和天然气行业，利用QEMSCAN对钻井岩屑和岩心试样进行显微分析，从而降低风险并提高采收率。在煤炭行业，利用该系统自动分析煤、煤粉和煤燃烧产物，可以更好地了解煤燃烧和废物利用情况。