| 品牌:FEI | | 型号:MLA | | 加工定制:否 | |
| 类型:电子 | | 目镜放大倍数:X | | 物镜放大倍数:X | |
| 仪器放大倍数:X | | 重量:X g | | 适用范围:岩心、颗粒或块状材料的抛光面进 | |
| 装箱数:1 | | | | | |
美国进口扫描电子显微镜_FEI_MLA扫描电镜
美国FEI有着逾60年的历史,可帮助客户找出问题的真相,从而加快突破性发现的速度,提高生产效率,*终改变世界。美国FEI 设计、制造和支持门类*齐全的高性能显微镜工作流,它们可在微观、纳米和皮米级别提供图像,找出问题的真相。美国FEI在全球范围内有2700余名员工,他们将电子显微镜、离子显微镜和光学显微镜方面的软硬件知识与在材料科学、生命科学、电子工业和自然资源市场深厚的应用知识结合起来,专注于帮助客户发现和解决难题。美国FEI扫描电子显微镜 (SEM) 解析从光学范畴到亚纳米长度尺度的特性。我们灵活的SEM可满足各种需求,从科学和工程中的材料表征一直到自然资源中的应用、制造和生物系统。
FEI扫描电子显微镜MLA
MLA(Mineral Liberation Analyzer 的首字母缩略词)是一套自动化矿物分析系统,能够对岩心、颗粒或块状材料的抛光面进行矿物成分分析,并对众多矿物特性进行量化分析,例如矿物丰度、颗粒粒度和解离度。
矿物结构和解离度是矿石的基本特性,也决定了矿石是否具有经济价值。因此,对于致力于工艺优化、开采可行性研究和矿石特性研究的地质学家、矿物学家和冶金学家而言, FEI扫描电镜MLA所提供的数据就具有较大的价值。
MLA 扫描电镜在自然资源领域的应用
MLA 650 扫描电镜一个关键特点是能够同步采集矿物和结构(微结构)数据,确保了数据集的一致性。高级软件自动化功能可实现无人值守的数据采集操作。无论是矿物组成、颗粒粒度、矿物共生、矿物解离度等基本数据,还是元素组成、岩石骨架密度或品位-回收率曲线等计算数据,通常都是基于数十万个分析点的测量和矿物分类操作。
美国进口扫描电子显微镜_FEI_MLA扫描电镜产品型号
1、FEI扫描电镜MLA Express2、FEI扫描电镜MLA 650F3、FEI扫描电子显微镜MLA 650