FEI扫描电子显微镜(SEM)Inspect

美国FEI有着逾60年的创新和良好地位，可帮助客户找出问题的真相，从而加快突破性发现的速度，提高生产效率，*终改变世界。美国FEI 设计、制造和支持门类*齐全的高性能显微镜工作流，它们可在微观、纳米和皮米级别提供图像，找出问题的真相。
美国FEI在全球范围内有2700余名员工，他们将电子显微镜、离子显微镜和光学显微镜方面的软硬件*知识与在材料科学、生命科学、电子工业和自然资源市场深厚的应用知识结合起来，专注于帮助客户发现和解决世界难题。
美国FEI扫描电子显微镜 (SEM) 解析从光学范畴到亚纳米长度尺度的特性。我们灵活的SEM可满足各种需求，从科学和工程中的材料表征一直到自然资源中的应用、制造和生物系统。
FEI扫描电子显微镜(SEM)Inspect
Inspect™ 扫描电子显微镜(SEM)系列拥有先进的样本室真空技术，并依托于FEI一流的电子光学和样本通量技术。在检测、表征、过程控制和失败分析都非常重要的情况下，Inspect S50 和 Inspect F50 型号的高分辨率成像是必备条件。直观的用户界面和软件，其中记录和存储图像所需的所有功能均可通过工具栏直接访问，非常适于多用户环境；同时，全开放载物台可容纳各种样本夹，在多种用途中增加价值并提高灵活性。
Inspect设备系列包括两种扫描电子显微镜，分别为钨丝SEM 和FEG SEM，以供在例行需要高分辨率成像的情况下使用。这两种扫描电子显微镜经济实惠、灵活先进，采用FEI先进技术制造，对于处理材料表征和检测应用的工业制造商与研究人员非常有用。
FEI扫描电子显微镜(SEM)Inspect的材料科学应用
Inspect F50 专为研究多种材料并表征其结构与成分的主流需求而设计，易于使用，提供高分辨率的稳定平台，可满足大部分研究需求。易于使用的界面提供准确快速的数据收集；表面和成分图像可与快速元素分析结合，以便确定材料属性和元素成分。在许多领域中，FEG SEM 的高分辨率和高强度电流有助于满足生成高质量图像和实现快速分析的要求。Inspect F50 是这些基本研究应用的主流、灵活解决方案。
Inspect S50 是先进的低真空扫描电子显微镜 (SEM) 平台，采用热发射电子光学部件，提供高分辨率功能。低真空设置对于非导电和严重污染材料的检测与表征尤其有用，该系统还能大限度降低样本制备的复杂性，实现无电荷成像与分析。